1. High resolution X-ray diffractometry and topography
پدیدآورنده : / D. Keith Bowen, Brian K. Tanner
کتابخانه: كتابخانه مركزی و مركز اسناد دانشگاه مازندران (مازندران)
موضوع : X-ray crystallography.,X-rays- Diffraction.,Crystals
رده :
QD945
.
B683
1998
2. Introduction to the physics of electrons in solids
پدیدآورنده : Tanner, B. K.)Brian Keith(
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اسناد دانشگاه شهید باهنر کرمان (کرمان)
موضوع : ، Solid state physics,، Energy-band theory of solids,، Semiconductors
رده :
QC
176
.
T32
1995
3. Introduction to the physics of electrons in solids
پدیدآورنده : Tanner, B. K.)Brian Keith(
کتابخانه: كتابخانه مركزی دانشگاه صنعتي شريف (تهران)
موضوع : ، Solid state physics,، Energy-band theory of solids,، Semiconductors
رده :
QC
176
.
T32
1995
4. X-ray diffraction topography
پدیدآورنده : Tanner, B. K.)Brian Keith(
کتابخانه: كتابخانه مركزی دانشگاه صنعتي شريف (تهران)
موضوع : ، X-ray crystallography
رده :
QD
945
.
T36
1976
5. X-ray diffraction topography
پدیدآورنده : Tanner, Brian Keith
کتابخانه: كتابخانه پردیس علوم دانشگاه تهران (تهران)
موضوع : ، X-ray crystallography
رده :
QD
945
.
T36
6. X-ray diffraction topography
پدیدآورنده : Tanner, Brian keith
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه فردوسی مشهد (خراسان رضوی)
موضوع : ، X-ray crystallography
رده :
QD
945
.
T36
7. X-ray metrology in semiconductor manufacturing
پدیدآورنده : / D. Keith Bowen, Brian K. Tanner
کتابخانه: کتابخانه مرکزی، مرکز اسناد و تامین منابع علمی دانشگاه صنعتی سهند (آذربایجان شرقی)
موضوع : Semiconductors--Design and construction--Quality control,Integrated circuits--Measurement,Semiconductor wafers--Inspection,X-rays--Diffraction,Fluroscopy
رده :
TK7874
.
58
.
B69
2006
8. X-ray metrology in semiconductor manufacturing
پدیدآورنده : / D. Keith Bowen, Brian K. Tanner
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه محقق اردبیلی ره (اردبیل)
موضوع : Semiconductors- Design and construction- Quality control,Integrated circuits- Measurement,Semiconductor wafers- Inspection,X-rays- Diffraction,Fluroscopy
رده :
TK7874
.
58
.
B69
2006
9. X-ray metrology in semiconductor manufacturing
پدیدآورنده : / D. Keith Bowen, Brian K. Tanner
کتابخانه: کتابخانه مرکزی، مرکز اسناد و تامین منابع علمی دانشگاه صنعتی سهند (آذربایجان شرقی)
موضوع : Semiconductors , Design and construction , Quality control,Integrated circuits , Measurement,Semiconductor wafers , Inspection,X-rays , Diffraction,Fluroscopy
رده :
E-BOOK
